SJ 20438-1994.Methods for measurement of lead tin telluride slice for use in infrared detector.
1范围
1.1主题内容
SJ 20438规定了红外探测器用碲锡铅(PbpxSxT,)单晶片的电学参数、结构参数和组分的测试方法。
1.2适用范围
SJ 20438适用于红外探测器用碲锡铅外延衬底用单晶片的性能检测和评定，也适用于碲化铅和碲锡铅外延膜位错腐蚀坑的检测。
2引用文件
GB 8760--88砷化镓单晶位错密度的测量方法
GB 11297.7--89锑化铟单晶电阻率及霍尔系数的测试方法
GJB 1785-93红外探测器用碲镉汞晶片测试方法
3定义
本章无条文。
4一般要求
4.1测量的环境 条件
温度:15~ 35C;
相对湿度:45% ~75% ;
气压:86~106KPa.
5详细要求
本标准采用独立编号方法,将四种测试方法列为:
方法101
碲锡铅单晶片定向.
方法201
组分X值的测定
方法301
位错腐蚀坑密度测量
方法401
电学参数的测量
3程序
3.1 受试单晶片的准备与处理
碲锡铅单晶体沿(100)晶面切割后的晶片尺寸应为10mmX15mmX1.5mm,晶片的表面色泽应均勾,无低角晶界和肉眼可见的裂纹。从晶体中切下的晶片,需经无水乙醇浸泡4h,去除虫胶(或其他粘接剂) ,并清洗干净。
3.2试验条件
a.电源功率≥0. 5kW;
b.地面 平坦,无振动;
c. 用标准石英片(1011)面调整零位。
3.3试验步骤
a.根据碲锡铅单晶片晶向(100)的衍射角20=27.42,定好计数器的角度;
b.开机,调整工作电流2mA;
c.预热10min后,开高压,将单晶片放在样品架上调整晶片,使其被测部位对准X光，开启吸气闸;文章源自标准下载网-https://www.biao-zhun.cn/97921.html
SJ 20438-1994 红外探测器用碲锡铅晶片测试方法
